[发明专利]表盘缺陷检测方法、装置、图像处理设备及存储介质有效
| 申请号： | 201911114254.5 | 申请日： | 2019-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN110866911B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 冯宇;刘洪;赵利博 | 申请（专利权）人： | 华雁智能科技（集团）股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10;G06T5/40;G06T7/90;G06V10/764;G06V10/44;G06V10/50 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 胡蓉 |
| 地址： | 四川省成都市高新区天华二*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明实施例提出一种表盘缺陷检测方法、装置、图像处理设备及存储介质，涉及计算机视觉技术领域。该方法及装置通过对获取的原始图像进行预处理得到预处理图像，然后基于预存储的第一标准图像，对预处理图像进行几何变换得到变换图像，接着基于预存储的第二标准图像，从变换图像中定位得到目标图像区域，接着根据目标图像区域得到归一化特征，最后对归一化特征进行分类以确定原始图像是否包含缺陷。通过上述方法实现对表盘缺陷的自动检测，既能有效减少人为检测导致的误检、漏检等情况，还能减少人力成本，并提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 表盘 缺陷 检测 方法 装置 图像 处理 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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