[发明专利]一种基区环掺杂抗辐射横向PNP晶体管及制备方法在审

专利信息
申请号: 201911114870.0 申请日: 2019-11-14
公开(公告)号: CN110828560A 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 赵杰;薛东风;薛智民;孙有民;王清波;卓青青;杜欣荣 申请(专利权)人: 西安微电子技术研究所
主分类号: H01L29/735 分类号: H01L29/735;H01L29/10;H01L29/06;H01L21/331
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 郭瑶
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基区环掺杂抗辐射横向PNP晶体管及制备方法,在通过传统形成横向PNP晶体管结构之后,通过光刻胶掩蔽注入的方法在横向PNP晶体管N型基区表面进行一次N型杂质注入,在N型基区表面形成一个环形的N+掺杂区,将横向PNP晶体管的基区宽度Wb所在位置由N型外延层表面推向N型外延层体内。当基区环结构的横向PNP晶体管处于总剂量辐照环境中时,虽然氧化层中正电荷积累会导致P型集电区的耗尽和反型以及P型发射区表面的耗尽和反型,但由于基区宽度Wb位置已下移至P型集电区的耗尽和反型和P型发射区表面的耗尽和反型下方,所以并不会影响横向PNP晶体管的基区宽度,故这种基区环结构横向PNP晶体管具有较强的抗总剂量辐射能力。
搜索关键词: 一种 基区环 掺杂 辐射 横向 pnp 晶体管 制备 方法
【主权项】:
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