[发明专利]一种卫生陶瓷产品釉面缩釉缺陷探测方法有效
| 申请号： | 201911119667.2 | 申请日： | 2019-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN110736825B | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 林孝发;林孝山;闵卫;罗兴玲;贺浮平 | 申请（专利权）人： | 九牧厨卫股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/38 | 分类号： | G01N33/38;G01B5/30 |
| 代理公司： | 厦门龙格专利事务所(普通合伙) 35207 | 代理人： | 郑晓荃 |
| 地址： | 362300 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种卫生陶瓷产品釉面缩釉缺陷探测方法被公开，卫生陶瓷产品釉面缩釉缺陷探测方法通过对比施釉扇形环坯体烧结前后的两端距离值变化与未施釉扇形环坯体烧结前后的两端距离值变化，评价施釉对坯体烧结收缩的影响。该卫生陶瓷产品釉面缩釉缺陷探测方法能够解决为陶瓷坯体生产过程中施釉对坯体烧结收缩的影响作出评价的问题，其采用扇形环坯体的方式实现了如实记录坯釉在烧成过程中由于釉层产生的变形应力与坯体本身变形应力差异产生的变形作用结果，以较大程度地拟合实际生产时施釉对坯体烧结收缩的影响，从而判定釉料配方及性能与坯体在烧成升温阶段反应的匹配性，并实现在釉料性能设计和制作阶段探测到釉料所存在的缺陷风险及规避该风险的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 卫生 陶瓷产品 釉面 缺陷 探测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种卫生陶瓷产品釉面缩釉缺陷探测方法，其特征是，通过对比施釉扇形环坯体烧结前后的两端距离值变化与未施釉扇形环坯体烧结前后的两端距离值变化，评价施釉对坯体烧结收缩的影响。/n
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