[发明专利]一种多通道响应时间自动测试装置及方法有效
| 申请号： | 201911121852.5 | 申请日： | 2019-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN110855523B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 段长亮;黄君龙;吕秀红;高超 | 申请（专利权）人： | 北京广利核系统工程有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;G01D7/00;G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 李明里 |
| 地址： | 100094 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多通道响应时间自动测试装置及方法，属于集散控制系统性能测试技术领域，解决了现有技术中测量误差大、装置体积大且无法同步测量多路被测通道的问题。该装置包括上位机和至少一个下位机；上位机，用于设置阶跃信号参数并输出至下位机，控制下位机进行测试；下位机，用于接收并存储上位机设置的阶跃信号参数，向被测通道输出阶跃信号，并采集被测通道的输入阶跃信号波形数据和输出响应波形数据，进而上传至上位机；上位机根据接收的所述输入阶跃信号波形数据和输出响应波形数据进行波形显示并确定响应时间。该装置测量误差小，装置体积小便于携带，且可同步测量多路不同被测通道。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通道 响应 时间 自动 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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