[发明专利]一种基于二阶相干性测量的单微波量子检验装置有效
| 申请号： | 201911122728.0 | 申请日： | 2019-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN111220854B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 吴养曹;陆军;尤立星;赵卫岗;李桂红;赵军民;张雪松;严会玲;栾添;章利球;李浩;蒋燕阳;李宏科;郭明 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十九研究所;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01J11/00 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 陈星 |
| 地址： | 710000 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于二阶相干性测量的单微波量子检验装置，采用微波量子源、单微波量子放大器、微波功分器，然后经两路微波/光学上转换装置、光学滤波、延迟、单光子探测器和同时对两路信号进行量子处理的量子处理器等装置，对微波量子的二阶相干性进行测量，进而能够实现对单微波量子探测器特性的检验以及对微波量子源特性的检验。本发明在微波单量子源后直接进行微波功分，分两路进行微波光学上转换，光学滤波等处理。本发明所使用的全部电学、光学器件与设备均可以在室温条件下工作，对于开展微波量子计量、自由空间微波量子探测研究具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相干性 测量 微波 量子 检验 装置 | ||
【主权项】：
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