[发明专利]一种在轨红外辐射基准源温度控制系统在审
| 申请号： | 201911125185.8 | 申请日： | 2019-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN110750118A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 郑建丽;丁雷;吴亦农;赵月中;杨宝玉;钱婧;韩昌佩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G05D23/30 | 分类号： | G05D23/30;G01J5/00 |
| 代理公司： | 31311 上海沪慧律师事务所 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在轨红外辐射基准源温度控制系统，特别涉及星载红外光学仪器的辐射标校用的基准源控制系统。该系统包括辐射源单元、加热器单元、温度测量单元、控制单元和隔热腔体；通过分布式测量、集中控制的方式，能够提供一种可在轨使用的红外辐射源，为星载红外光学仪器的辐射量化测量提供一种手段。 | ||
| 搜索关键词： | 红外光学仪器 基准源 星载 温度测量单元 温度控制系统 分布式测量 辐射源单元 红外辐射源 加热器单元 隔热腔体 红外辐射 集中控制 控制系统 辐射 标校 测量 量化 | ||
【主权项】：
1.一种在轨红外辐射基准源温度控制系统，，包括红外辐射源单元(1)、加热器单元(2)、温度测量单元(3)、控制单元(4)和隔热腔体(5)，其特征在于：/n所述的温度控制系统通过分布式测量隔热腔体(5)内红外辐射源单元(1)上的多个温度测量单元(3)，经过控制单元(4)集中控制加热器单元(2)的加热功率，得到一个具有均匀且稳定的红外辐射量，为星载红外光学仪器的辐射量化测量提供一种手段。/n
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