[发明专利]基准辅助延伸测量尺在审

专利信息
申请号: 201911141958.1 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN110722404A 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: 高峰 申请(专利权)人: 华域视觉科技(上海)有限公司
主分类号: B23Q17/22 分类号: B23Q17/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201821 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种基准辅助延伸测量尺,包括:测量部分和固定部分,测量部分为中空的矩形结构,固定部分包括互相垂直的2条边,且固定部分的2条边与测量部分的矩形结构的边平行。互相垂直的2条边的相对的内部表面设有磁石槽,用于放置磁石,用于吸附在加工工件上,使得基准辅助延伸测量尺不易掉落。有效解决寻边器与加工工件干涉时,基准边无法测量的问题;再利用基准辅助延伸测量尺的固定部分的2条垂直的边,建立直角坐标系,从而计算加工工件的位置,计算方法简单可靠,实用性强。另外,基准辅助延伸测量尺结构简单,加工方便,容易使用。
搜索关键词: 延伸测量 加工工件 测量 条边 互相垂直 矩形结构 直角坐标系 加工方便 内部表面 有效解决 垂直的 磁石槽 基准边 寻边器 再利用 中空的 掉落 磁石 吸附 平行 干涉
【主权项】:
1.一种基准辅助延伸测量尺,其特征在于,包括:测量部分和固定部分,所述测量部分为中空的矩形结构,所述固定部分包括互相垂直的2条边,且所述固定部分的2条边与所述测量部分的矩形结构的边平行。/n
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