[发明专利]一种基于量子点-纳米通道的铜离子检测方法有效
| 申请号： | 201911145409.1 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN110849850B | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 高红丽;李承勇;殷勇;陈秀金;李道敏;李兆周 | 申请（专利权）人： | 河南科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473 | 代理人： | 路贺贺 |
| 地址： | 471000 河南*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： |
本发明提供了一种基于量子点‑纳米通道的铜离子检测方法，包括步骤：制备CdSe@ZIF‑8/PAA膜；利用所述CdSe@ZIF‑8/PAA膜制成与倒置荧光显微镜适配的芯片，所述芯片包括储液池，所述CdSe@ZIF‑8/PAA膜位于所述储液池内，其中，所述储液池内还置有工作电极，所述工作电极与电化学工作站电连；在所述储液池中加入电解质溶液和Cu |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 量子 纳米 通道 离子 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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