[发明专利]一种高光谱大视场成像光谱仪的全视场太阳参考谱获取方法有效

专利信息
申请号: 201911146481.6 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN111220557B 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 赵敏杰;司福祺;汪世美;江宇 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01J3/28
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 邓治平
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种高光谱大视场成像光谱仪的全视场太阳参考谱获取方法,首先选取高光谱分辨率的标准太阳谱,并在实验室采用高精度光谱定标设备获取成像光谱仪在不同光谱间隔、不同视场间隔下的光谱响应函数实测值,其次对光谱响应函数进行插值以匹配标准太阳谱的采样率,然后设置每个光谱响应函数对应的卷积窗口,不同视场卷积窗口基于光谱弯曲值进行调整,卷积窗口设置完成后,在其内将光谱响应函数与高分辨率太阳标准谱进行卷积,由此可得到每个卷积窗口的太阳参考谱,并将太阳参考谱进行降采样以匹配成像光谱仪的光谱采样间隔,最后在光谱维上对每个卷积窗口的太阳参考谱进行拼接,在空间维上对其它视场进行插值,进而得到全视场的太阳参考谱。
搜索关键词: 一种 光谱 视场 成像 光谱仪 太阳 参考 获取 方法
【主权项】:
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