[发明专利]一种测量纯矿物纳米级圆柱管内吸附态甲烷厚度的方法有效

专利信息
申请号: 201911147968.6 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN110849844B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 陈方文;丁雪;郑强;卢双舫;赵红琴;谭雅文 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266580 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种测量纯矿物纳米级圆柱管内吸附态甲烷厚度的方法,属于天然气勘探领域。该方法测量不同温度、压力条件下纯矿物纳米级圆柱管内吸附态甲烷厚度,弥补实验室无法测量孔隙内吸附态甲烷厚度的缺陷。该方法步骤为:①选纯矿物制成孔径逐渐增大的一系列纳米级圆柱管;②用单色光以入射角0‑90度间某个角度沿圆柱管纵向最大截面分别照射充注液态氢纳米级圆柱管,并按照圆柱管孔径由小到大顺序记录单色光射入点和射出点沿管轴方向的距离;③用单色光以与②中相同入射角照射不同温度、压力条件下充注甲烷气体纳米级圆柱管,并记录单色光射入点和射出点沿管轴方向的距离;④对比②和③中的距离差,确定纯矿物纳米级圆柱管内吸附态甲烷厚度。
搜索关键词: 一种 测量 矿物 纳米 圆柱 吸附 甲烷 厚度 方法
【主权项】:
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