[发明专利]甚高分辨率红外探测器芯片与读出电路芯片倒装互连方法有效

专利信息
申请号: 201911149361.1 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN110911432B 公开(公告)日: 2023-01-06
发明(设计)人: 谢珩;宁提;谭振;王骏;邓大伟 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十一研究所
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 焉明涛
地址: 100015*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种甚高分辨率红外探测器芯片与读出电路芯片倒装互连方法,该方法包括:通过倒装焊设备预压红外探测器芯片与读出电路芯片,使红外探测器芯片与读出电路芯片初步互相连接;通过超大压力键合设备压焊经过预压后初步互相连接的红外探测器芯片与读出电路芯片。本发明采用先预压后二次压焊的方式克服了超高互连精度和超大互连压力之间的矛盾,解决了现有技术中传统的工艺难以保证芯片良好的混成互连耦合效果的问题。
搜索关键词: 高分辨率 红外探测器 芯片 读出 电路 倒装 互连 方法
【主权项】:
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