[发明专利]一种高线性度复合绝缘侧栅结构的GaN晶体管器件有效

专利信息
申请号: 201911150149.7 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN112825329B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 王冲;刘凯;马晓华;郑雪峰;李昂;赵垚澎;何云龙;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/423;H01L29/778
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 李园园
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种高线性度复合绝缘侧栅结构的GaN晶体管器件,包括:衬底层;若干沟道层,若干所述沟道层依次叠于所述衬底层上;栅极,设置在若干所述沟道层的两侧和顶部,并位于所述GaN晶体管器件的中间位置处,而且至少最底层的所述沟道层的两侧不设置所述栅极,其中,所述栅极包括栅介质层和栅金属层;源极,设置在所述若干沟道层上,并位于所述GaN晶体管器件的靠近一侧的位置处;漏极,设置在所述若干沟道层上,并位于所述GaN晶体管器件的靠近另一侧的位置处。本发明的GaN晶体管器件具有较小的开态电阻,同时具有较大的电流驱动能力,而且线性度高、功耗小。
搜索关键词: 一种 线性 复合 绝缘 结构 gan 晶体管 器件
【主权项】:
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