[发明专利]基于光程差指示的双折射干涉器装调装置及装调方法有效

专利信息
申请号: 201911150499.3 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN110987186B 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 柏财勋;冯玉涛;范文慧;李立波;李海巍;畅晨光;胡炳樑 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/28
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种双折射干涉器装调装置及装调方法,特别涉及一种基于光程差指示的双折射干涉器装调装置及装调方法,解决了现有基于干涉条纹指示的双折射干涉器装调装置及装调方法,难以满足双折射偏振干涉型的高光谱成像装置干涉器装调精度要求的技术问题。该装调装置的特殊之处在于:包括沿光路依次设置的激光光源、扩束系统、散射器、标准起偏器、成像物镜以及探测器;定义:标准起偏器的反射光路方向为x轴正向,标准起偏器的透射光路方向为z轴正向,x轴与z轴所确定平面的法线方向为y轴方向;标准起偏器的透射光偏振方向平行于x轴;探测器位于成像物镜的后焦面处。本发明还提供了一种基于上述装调装置的装调方法。
搜索关键词: 基于 光程 指示 双折射 干涉 器装调 装置 方法
【主权项】:
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