[发明专利]离焦量检测方法有效
| 申请号： | 201911152828.8 | 申请日： | 2019-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN110930388B | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 徐宣哲;窦润江;刘显军;吴南健 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种离焦量检测方法，方法包括：对原始图像进行二维离散傅里叶变换，得到频谱图像；将频谱图像所在区域划分为一个以上的区间，并对每一区间的频谱图像进行灰度值平均处理；根据每一区间的频谱图像的灰度值对频谱图像进行去衍射化处理；从每一区间的频谱图像的灰度值中确定峰谷值，峰谷值所对应区间的频谱图像与频谱图像的中心之间的距离为频谱图像的暗环半径；根据暗环半径计算原始图像对应的离焦量。 | ||
| 搜索关键词： | 离焦量 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所，未经中国科学院半导体研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911152828.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
