[发明专利]基于半监督深度学习的芯片管脚缺失检测方法有效
| 申请号： | 201911157667.1 | 申请日： | 2019-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN110930390B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 窦宝恒;李坤彬 | 申请（专利权）人： | 深圳市海芯微迅半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187 |
| 代理公司： | 杭州知管通专利代理事务所(普通合伙) 33288 | 代理人： | 黄华 |
| 地址： | 518116 广东省深圳市龙岗区宝龙街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于半监督深度学习的芯片管脚缺失检测方法。包括：对芯片图像进行预处理，得到增强的芯片灰度图像；对增强的芯片灰度图像进行边缘检测、阈值化、形态学滤波处理，得到芯片轮廓图像、芯片封装图像；对芯片轮廓图像、芯片封装图像进行连通域检测，判断得出芯片具有管脚的侧面；根据芯片具有管脚的侧面判断结果生成封装遮罩图像，与芯片轮廓图像点对点相乘，得到芯片管脚图像；对芯片管脚图像进行管脚缺失判断并标示；根据标示结果训练语义分割深度卷积神经网络；利用训练好的语义分割深度卷积神经网络对待检测芯片图像进行管脚缺失检测。利用本发明，可以在芯片质量检测场景中，实现芯片管脚缺失检测，提高检测效率、精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 监督 深度 学习 芯片 管脚 缺失 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市海芯微迅半导体有限公司，未经深圳市海芯微迅半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911157667.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：莫尔斯码自动发报机
- 下一篇：高功率激光焊接头的气路结构
