[发明专利]用于测量微纳颗粒的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201911158295.4 申请日: 2019-11-22
公开(公告)号: CN110823772A 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 熊贵;柳可;王哲 申请(专利权)人: 瑞芯智造(深圳)科技有限公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/02;G01N15/06
代理公司: 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 代理人: 刘抗美
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观澜*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请的实施例揭示了一种用于测量微纳颗粒的装置和方法,该装置包括:第一腔室、微孔膜、电泳槽和第二腔室,其中所述微孔膜位于所述第一腔室与所述电泳槽之间,并且所述微孔膜上具有微孔,所述第一腔室与所述电泳槽通过所述微孔相连通;所述第二腔室与所述电泳槽相邻,并具有位于所述第二腔室与所述电泳槽之间的第一侧壁,所述第一侧壁上具有用于连通所述第二腔室与所述电泳槽的第一开口;所述微孔的内径小于所述电泳槽的内径,所述电泳槽的内径小于所述第二腔室的内径;所述第一腔室具有第一电极,所述第二腔室具有第二电极。本申请实施例的技术方案能够测量溶液中单一微纳颗粒的属性。
搜索关键词: 用于 测量 颗粒 装置 方法
【主权项】:
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