[发明专利]用于测量微纳颗粒的装置及方法在审
| 申请号： | 201911158297.3 | 申请日： | 2019-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN110823773A | 公开（公告）日： | 2020-02-21 |
| 发明（设计）人： | 柳可;熊贵;王哲 | 申请（专利权）人： | 瑞芯智造（深圳）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/02 |
| 代理公司： | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人： | 刘抗美 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观澜*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请的实施例揭示了一种用于测量微纳颗粒的装置和方法。其中，该装置包括：包括腔体和至少两张微孔膜，所述微孔膜串设在所述腔体内，将所述腔体分隔为多个腔室，并且所述微孔膜上具有微孔，相邻两个腔室通过所述微孔相连通，每个所述腔室具有电极。该方法包括：使待测量的微纳颗粒随电解液连续通过所述装置的微孔；获取所述微纳颗粒通过每个所述微孔的过程中，与每个所述微孔相邻的两个电极之间的电信号数据；根据所述电信号数据确定所述微纳颗粒的属性数据。本申请实施例的技术方案能够实现对溶液状态下的微纳颗粒的三维形态属性的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 颗粒 装置 方法 | ||
【主权项】：
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