[发明专利]基于光学腔的双物质波源干涉测量装置在审
| 申请号： | 201911163377.8 | 申请日： | 2019-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN110888175A | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 胡亮;吴龟灵;陈建平 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01V7/02 | 分类号： | G01V7/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于光学谐振腔的双物质波源原子干涉测量装置，包括主真空腔体、光学谐振腔、碱土金属原子炉、探测光、探测区腔体、真空泵、光电探测器、原子操控激光、冷却激光、反亥姆赫兹线圈、补偿磁场线圈、冷原子团、偏置磁场线圈。本发明采用光学谐振腔提高了原子干涉激光的功率和波前相位平整度，具有干涉激光功率高、波前相位波动小，干涉装置结构紧凑、简单、可靠性高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光学 物质 波源 干涉 测量 装置 | ||
【主权项】：
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