[发明专利]一种硅锰锆孕育剂中其他杂质元素的分析方法在审
| 申请号： | 201911169247.5 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110895244A | 公开（公告）日： | 2020-03-20 |
| 发明（设计）人： | 刘淑香;卞大勇;姚旭;于建华;张刚;左良 | 申请（专利权）人： | 天津华勘商品检验有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N27/416 |
| 代理公司： | 天津市新天方专利代理有限责任公司 12104 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 300182*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明是一种硅锰锆孕育剂中其他杂质元素的分析方法，具体步骤为：(1)硅锰锆孕育剂中镁、铋、镧、锶、铈的分析：S1、样品处理；S2、标准溶液配制；S3、电感耦合等离子体发射光谱仪工作条件设定；S4、分析线选择；S5、基体干扰分析；S6、标准曲线绘制和检出限测定；(2)硅锰锆孕育剂中氟的分析：P1、样品处理；P2、标准溶液配制P3、测定。本发明建立了检验硅锰锆孕育剂中镁、铋、镧、锶、铈、氟元素的方法，建立了覆盖不同种类孕育剂的主要检测指标，是一种完善、准确、快速的检验手段，为使用电感耦合等离子体发射光谱仪为代表的各种测试手段，检测与孕育剂类似产品的工作打下坚实的基础，创造更大的经济效益。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硅锰锆 孕育 其他 杂质 元素 分析 方法 | ||
【主权项】：
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