[发明专利]一种测度谷粒表面积和投影参数的新方法有效
| 申请号： | 201911170465.0 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110866947B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 唐启源;王小卉;李绪孟;戴含;邓莹萍 | 申请（专利权）人： | 湖南农业大学 |
| 主分类号： | G06T7/62 | 分类号： | G06T7/62;G06V10/762 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 410128 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用三维扫描仪获得谷粒点云测度谷粒形态参数的新方法。本发明测度谷粒形态参数包括：测度谷粒的表面积、谷粒投影面积和投影周长。本发明涉及测量方法、激光点云处理、图像几何变换和数值计算等技术领域。包括点包括点云图像获取、激光点云处理、图像几何变换、数值计算等步骤。本发明通过三维扫描的方式批量获取水稻谷粒激光点云，基于图像几何变换和点云聚类提取单个水稻谷粒激光点云，通过对水稻谷粒激光点云的数值分析提取水稻谷粒的谷粒表面积、谷粒投影面积和投影周长。本发明可用于不同品种谷粒形态量化分析，秕谷和实粒的分类。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测度 谷粒 表面积 投影 参数 新方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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