[发明专利]一种十字线缺陷检测方法、系统、阵列基板及显示面板有效
| 申请号： | 201911173649.2 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110890043B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 肖平坦 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 何辉 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种十字线缺陷检测方法、系统、阵列基板及显示面板，包括步骤：测试基板中十字线缺陷的第一坐标数值；根据所述第一坐标数值标记异常电路；测试出所述异常电路的第二坐标数值，并生成所述十字线缺陷和所述异常电路的异常影像；根据所述第二坐标数值和所述异常影像，确定所述十字线缺陷的准确位置；根据所述十字线缺陷的准确位置进行修补。通过制作出专门的标记异常电路，用以获取未知异常位置与已知异常异常的相对位置关系，进而得到未知异常位置的精确位置所在，实现十字线缺陷的精准“盲修”。能够提高十字线缺陷的盲修准确性，提升产品良率；降低产品生产成本、提高工厂效益。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 十字 缺陷 检测 方法 系统 阵列 显示 面板 | ||
【主权项】：
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