[发明专利]等离子体处理装置及其半导体晶圆的处理方法在审

专利信息
申请号: 201911174957.7 申请日: 2019-11-26
公开(公告)号: CN112951694A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 涂乐义 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)股份有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01L21/3065
代理公司: 上海元好知识产权代理有限公司 31323 代理人: 张妍;刘琰
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种等离子体处理装置及其半导体晶圆的处理方法。等离子体处理装置,包括反应腔,反应腔内包括上电极组件、下电极组件、冷却通道及加热装置。上电极组件设置在反应腔内的上方,同时用于向反应腔内输送反应气体。下电极组件设置在反应腔内的下方,与上电极组件相对设置,用于承载待处理晶圆。冷却通道设置在上电极组件内部,用于对上电极组件进行冷却。加热装置设置在上电极组件内部,包括:若干个分立式加热器用于对上电极组件的不同区域进行加热;以及控制器,连结若干个分立式加热器且分别控制各个分立式加热器的功率。
搜索关键词: 等离子体 处理 装置 及其 半导体 方法
【主权项】:
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