[发明专利]一种提高半导体放大器件直流参数测试速度和精度的方法有效
| 申请号： | 201911177799.0 | 申请日： | 2019-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN110850264B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 李淼;赵建颖;李严峰 | 申请（专利权）人： | 北京博达微科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京国林贸知识产权代理有限公司 11001 | 代理人： | 李桂玲;杜国庆 |
| 地址： | 101300 北京市顺义区仁和镇澜*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高半导体放大器件直流参数测试速度和精度的方法，半导体放大器件直流参数测试包括对放大器件施加负载阻抗形成控制闭环系统，确定控制闭环系统中的放大器闭环参数带宽增益积和零极点补偿系数，然后进行电压多档位转换的直流电流参数测量，直至全部档位测量完成，本发明将传统的源测量单元使用模拟硬件来实现控制循环改为可配置的选择闭环控制，动态调整闭环控制的响应，全方位减少了直流参数测试时间，并在同等测试时间下增加了测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 半导体 放大 器件 直流 参数 测试 速度 精度 方法 | ||
【主权项】：
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