[发明专利]一种QFN芯片引脚图像快速倾斜校正方法有效

专利信息
申请号: 201911182587.1 申请日: 2019-11-27
公开(公告)号: CN110992326B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 巢渊;周伟;刘文汇;唐寒冰;李龑;李兴成 申请(专利权)人: 江苏理工学院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06V10/24;G06V10/30;G06V10/44
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 朱晓凯
地址: 213011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种QFN芯片引脚图像快速倾斜校正方法,包括以下步骤:(1)采集QFN芯片引脚图像,进行滤波、二值化处理;(2)利用多边形逼近方法提取芯片图像中心焊盘轮廓;(3)提出改进Harris角点检测算法,获取轮廓顶点;(4)利用最小二乘法对距离最远的顶点进行直线拟合,将直线作为角度识别方向;(5)以图像形心坐标为旋转中心,快速校正芯片引脚图像并去除白边。该校正方法为更快速、更准确地校正QFN芯片提供了一定的理论依据,提高了QFN封装缺陷视觉检测效率。
搜索关键词: 一种 qfn 芯片 引脚 图像 快速 倾斜 校正 方法
【主权项】:
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