[发明专利]单芯片集成型光谱成像微系统光谱数据校正方法有效
| 申请号： | 201911190015.8 | 申请日： | 2019-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN111024229B | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 刘舒扬;赵安娜;吕津玮;张晨;周涛;贾晓东 | 申请（专利权）人： | 天津津航技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/12 | 分类号： | G01J3/12 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 周恒 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于光谱成像技术领域，具体涉及一种单芯片集成型光谱成像微系统光谱数据校正方法。所述校正方法包括：步骤1：完成底层校正算法的设计；步骤2：根据底层校正算法计算校正矩阵；步骤3：将校正矩阵作用于光谱成像微系统输出光谱数据，得到校正后结果。本发明相对于现有迭代校正的技术方法，从硬件结构特性出发，提高了光谱成像微系统的光谱数据准确度。同时，减小校正矩阵对参考目标光谱数据的依赖性，对于不同的实际场景下应用均适用。底层校正算法的引入，初步解决了光谱成像微系统硬件结构及固有特性带来的影响光谱准确因素对光谱数据的影响问题，提高了光谱成像微系统光谱数据准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 集成 光谱 成像 系统 数据 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津津航技术物理研究所，未经天津津航技术物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911190015.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
