[发明专利]光束质量测量装置及远场光束质量因子计算方法在审

专利信息
申请号: 201911191276.1 申请日: 2019-11-28
公开(公告)号: CN110987173A 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 李朝辉;赵建科;徐亮;刘峰;张玺斌;毛振 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 汪海艳
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明属于高能激光光束质量测量领域,涉及一种光束质量测量装置及远场光束质量因子计算方法,克服传统的光束质量测量装置体积大,集成度低、使用繁琐等问题以及计算远场光束质量因子β的方法准确性不高的问题。整个测量装置光路由缩束器,分光镜,会聚镜,近场相机和远场相机组成,缩束器实现对大口径入射光束的缩束;分光镜用来对缩束后的光束进行分光,一路分给近场测试光路,通过连接近场相机进行近场波面测试,一路分给远场光路,通过会聚镜会聚后进入到远场相机实现远场光束质量测量。基于衍射环的远场光束质量因子β的计算方法,摒弃了传统的背景滤除和信号提取方法,具有计算速度快,数据稳定性高,抗噪声能力强的特点。
搜索关键词: 光束 质量 测量 装置 因子 计算方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911191276.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top