[发明专利]一种基于光学频率梳并应用于工件测距成像的方法在审

专利信息
申请号: 201911192930.0 申请日: 2019-11-28
公开(公告)号: CN110865392A 公开(公告)日: 2020-03-06
发明(设计)人: 翟京生;赵海涵;徐昕阳;吴翰钟;张好运;钱治文;薛彬 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01S17/89 分类号: G01S17/89;G01S17/08;G01S7/483
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 曹玉平
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种基于光学频率梳并应用于工件测距成像的方法,包括,利用光源发出飞秒脉冲光;将发出的飞秒脉冲光分为垂直的参考脉冲光和测量脉冲光;让参考脉冲光打到垂直于参考光路布置的一反射镜上,并调节参考光路的光程;让测量脉冲光经过一透镜后打到测量目标物体上,并在参考光路光程不变的情况下将聚焦点打到测量目标物体上,通过调节测量目标物体的位置调整测量光路的光程,并进行移动成像;两路脉冲分别按原路返回至红外分束立方体进行合束后依次通过另一反射镜和另一透镜打到一傅里叶光谱仪中,通过电脑后期处理后得到测量目标物体的图像。本发明实现了高精度、高稳定性、快速的工件目标物体测量;具有非接触且高精度的测量优势。
搜索关键词: 一种 基于 光学 频率 应用于 工件 测距 成像 方法
【主权项】:
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