[发明专利]测试用例的数据分析方法、装置、存储介质和测试设备在审
| 申请号： | 201911197290.2 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110865944A | 公开（公告）日： | 2020-03-06 |
| 发明（设计）人： | 孟建春 | 申请（专利权）人： | 江苏芯盛智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 杨奇松 |
| 地址： | 213000 江苏省常州市武进区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种测试用例的数据分析方法、装置、存储介质和测试设备，涉及测试领域。该方法包括：获取被测设备执行测试用例后的测试数据；测试数据包括测试输出信息及被测设备信息；根据测试输出信息及预设对应关系表确定与测试输出信息对应的测试结果信息；根据测试结果信息和被测设备信息生成测试用例的分析结果。由于预设对应关系表表征多个测试输出信息和测试结果信息的对应关系，在根据测试输出信息及预设对应关系表确定测试结果信息时，能够快速、准确地确定出测试用例的分析结果，避免人工对被测设备执行测试用例后的测试数据进行分析，故而能够提高测试用例的测试数据的分析效率，加快产品开发进程。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 数据 分析 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
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