[发明专利]光学测量设备有效
| 申请号： | 201911201555.1 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111272094B | 公开（公告）日： | 2022-10-21 |
| 发明（设计）人： | C·迪茨 | 申请（专利权）人： | 普雷茨特光电有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/14;G01B11/06;G02B27/12;G02B27/10 |
| 代理公司： | 北京金阙华进专利事务所(普通合伙) 11224 | 代理人： | 陈建春 |
| 地址： | 德国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了光学测量设备，包括：发射多个波长的光的光源(1)；来自光源(1)的光通过其的第一共焦光阑(2)；光学照射/成像系统(BA)，至少包括：第一分光元件(4)，其被设计为棱镜或光栅，进入第一分光元件(4)的光被使得准直；及与第一分光元件(4)空间上分开的、具有至少一第一透镜的第一透镜系统(5)，第一透镜系统(5)的有效焦距(f(λ))对于不同波长而显著不同(λ)，使得光学照射/成像系统(BA)设计成使得不同波长的焦点被形成在不同位置，这些位置沿与第一透镜系统(5)的对称轴(40)形成锐角的线段(41)坐落。该测量设备配置成测量与所述线段(41)交叉并反射至少一部分光的物体(30)。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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