[发明专利]一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法

摘要

本发明涉及一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法，属于无损检测技术领域，解决现有回转腔体构件壁厚测量过程中无法获得回转腔体构件壁厚的最大、最小值问题。本发明的测量方法步骤包括：步骤1：获取回转腔体构件的圆环截面，对图像区域划分；步骤2：确定圆环截面的圆心坐标；步骤3：计算圆环截面的最大半径Rmax，绘制虚拟圆；步骤4：计算虚拟圆中任一点的像素距离，求取任一点的实际壁厚。本发明通过工业CT成像设备获取待测位置圆形截面，利用两条弦线获取圆环截面的圆心坐标，在保证不损伤被测构件的前提下，求取回转腔体构件壁厚的最大值和最小值，原理简单、计算量小、运行算速度快。