[发明专利]用于检测颗粒的方法和装置在审
| 申请号： | 201911203063.6 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111239010A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·沃尔夫;亚历山大·范德李;里科·斯罗维克;汉斯·斯普鲁伊特;奥克·欧维尔捷希 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司;特鲁普光子元件有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/10 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 龚伟;李鹤松 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测颗粒的方法，该方法具有以下步骤：接收(S1)测量信号；使用接收的测量信号计算(S2)至少一个估计噪声值；以及基于至少一个检测标准使用所述测量信号来检测(S3)所述颗粒，其中，所述至少一个检测标准取决于至少一个计算的估计噪声值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 颗粒 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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