[发明专利]SOI压力传感器压敏电阻及其制作方法、SOI压力传感器有效

专利信息
申请号: 201911205158.1 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110911546B 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 曾庆平;金忠;张浩;何峰;周国方;丁玎;吴迪 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: H01L41/113 分类号: H01L41/113;H01L41/22;H01L41/27;H01L21/306
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 何文红
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种SOI压力传感器压敏电阻及其制作方法、SOI压力传感器,其制作方法包括以下步骤:制备注入缓冲保护层,制备注入阻挡层;P型掺杂,退火,形成P型重掺杂区;采用湿法刻蚀去除非P型重掺杂区,得到SOI压力传感器压敏电阻。本发明SOI压力传感器压敏电阻由上述方法制得。本发明SOI压力传感器包括P型重掺杂压阻,该P型重掺杂压阻为上述的SOI压力传感器压敏电阻。本发明SOI压力传感器压敏电阻的制作方法具有成本低廉、刻蚀精度高、一致性好、量产效率高、二次污染少等优点,制得的压敏电阻表面平直光滑,可广泛用作SOI压力传感器的压阻,有着很高的使用价值和良好的应用前景。
搜索关键词: soi 压力传感器 压敏电阻 及其 制作方法
【主权项】:
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