[发明专利]一种测量物体转动角度的系统及方法在审
| 申请号： | 201911210103.X | 申请日： | 2019-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN110715620A | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 王德麾;黄鹏;谢志梅;姜世平;董小春 | 申请（专利权）人： | 四川芯辰光微纳科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 51214 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 | 代理人： | 管高峰;夏琴 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量物体转动角度的系统，属于测量技术领域。所述系统包括CCD相机，微结构高分子薄膜，待测物体以及与CCD相机连接的显示器，所述微结构高分子薄膜贴于待测物体表面，所述微结构高分子薄膜朝着放置CCD相机的方向。所述微结构高分子薄膜包括微透镜阵列层、高分子薄膜层和微图形阵列层，微透镜阵列层和微图形阵列层分别设置于高分子薄膜层的上下表面。本发明还提供利用所述系统测量物体转动角度的方法。将微结构高分子薄膜与待测物体正对着CCD相机的表面贴合，其表面的图形位移可以通过CCD探测，当物体发生转动时，通过探测图形的位移，结合位移大小与转角大小的关系，可以算出物体发生转动的角度。 | ||
| 搜索关键词： | 高分子薄膜 微结构 待测物体 高分子薄膜层 微透镜阵列层 物体转动 微图形 阵列层 转动 测量技术领域 转角 表面贴合 上下表面 图形位移 系统测量 正对 显示器 探测 测量 | ||
【主权项】：
1.一种测量物体转动角度的系统，其特征在于，所述系统包括CCD相机，微结构高分子薄膜，待测物体以及与CCD相机连接的显示器，所述微结构高分子薄膜贴于待测物体表面，所述微结构高分子薄膜朝着放置CCD相机的方向。/n
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