[发明专利]具有嵌入式测试仪的测试系统在审
| 申请号： | 201911211455.7 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111239593A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 简·彼得·斯考特 | 申请（专利权）人： | 恩智浦有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 纪雯 |
| 地址： | 荷兰埃因霍温高科*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种系统。所述测试系统包括印刷电路板PCB和安装在所述PCB上的多个集成电路IC。所述多个集成电路的第一IC包括具有第一测试存取端口TAP控制器的第一测试电路。所述多个集成电路的第二IC包括：第二测试电路；其具有第二TAP控制器；以及嵌入式测试仪，其具有借助于链接电路耦合到所述第一TAP控制器的测试数据输入端的测试数据输出端。所述嵌入式测试仪被配置成将测试控制信号提供到所述第一TAP控制器和所述第二TAP控制器。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 嵌入式 测试仪 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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