[发明专利]一种具有双埋氧层的晶体管结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201911214247.2 申请日: 2019-12-02
公开(公告)号: CN110890418B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 吕凯;董业民 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种具有双埋氧层的晶体管结构及其制备方法,自上而下依次包括:顶层硅层,有源区,浅沟槽隔离区,有源区包括:位于顶层硅层上方的栅极、栅介质层,位于顶层硅层横向两端的源极和漏极;第一埋氧层;第二硅层;第二埋氧层;衬底硅层;还包括:依次贯穿浅沟槽隔离区、第一埋氧层的通孔,该通孔通过粒子注入或者掺杂,在第二硅层与通孔的界面处形成欧姆接触区;依次贯穿浅沟槽隔离区、第一埋氧层以及第二硅层形成的深沟槽隔离区;以及在衬底硅层与第二埋氧层的界面处形成的缺陷层。根据本发明提供的晶体管结构能够实现较低的衬底损耗和谐波噪声,使得器件在恶劣情况下实现较高的射频特性,与数字电路、模拟电路实现集成。
搜索关键词: 一种 具有 双埋氧层 晶体管 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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