[发明专利]一种基于S试件的自适应主轴性能劣化识别方法在审
| 申请号： | 201911217099.X | 申请日： | 2019-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN110909710A | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 王红军;韩风霞;籍永健;谷玉海 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G01M13/045 |
| 代理公司： | 北京远创理想知识产权代理事务所(普通合伙) 11513 | 代理人： | 张素妍 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于S试件的自适应主轴性能劣化识别方法，其步骤：加工S试件的同时采集保存主轴的径向振动信号；对径向振动信号按时间进行分段，对每段径向振动信号进行自适应噪声完备集合经验模式分解获得IMF分量；提取分解后信号的本征模态分量特征参数进行信号重构，计算重构信号功率谱信息熵和边际谱的重心频率；加工完成S试件后，判断S试件测量结果是否合格，获取机床主轴正常状态的特征和异常状态的特征；将加工新S试件过程中采集到的径向振动信号计算后得到的各段振动信号的PSE和SCF值分别与主轴正常和异常状态的特征进行比较，判断主轴健康状况；构建加工S试件不同加工阶段的功率谱熵曲线对主轴的劣化程度进行分类。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 自适应 主轴 性能 识别 方法 | ||
【主权项】：
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