[发明专利]用于检验MEMS传感器的传感器值的方法在审
| 申请号： | 201911219454.7 | 申请日： | 2019-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN111272207A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | C.胡特;O.维勒斯 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 胡莉莉;刘春元 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 介绍了一种用于检验MEMS传感器的传感器值的方法。在此，检测MEMS传感器的输出信号，并且根据输出信号来测定传感器值。此外，检查输出信号的频率成分，并且根据对频率成分的检查来查明：所测定的传感器值是可靠的还是不可靠的。如果所述传感器值被查明为不可靠的，则丢弃所述传感器值，或者对所述传感器值较小地加权，输出关于所述传感器值的不可靠性的警告或者存储关于所述传感器值的不可靠性的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检验 mems 传感器 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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