[发明专利]太赫兹焦平面探测器的封装结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201911220415.9 申请日: 2019-12-03
公开(公告)号: CN110911394B 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 秦华;孟占伟;孙建东 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L23/31;H01L21/98
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种太赫兹焦平面探测器的封装结构及其制作方法。所述封装结构包括太赫兹焦平面探测芯片、CMOS放大电路芯片以及设置于太赫兹焦平面探测芯片和CMOS放大电路芯片之间的绝缘基材,所述绝缘基材内分布有多个导电通道,所述导电通道沿厚度方向贯穿绝缘基材,并将所述太赫兹焦平面探测芯片与CMOS放大电路芯片电连接。本发明实施例中提供的太赫兹焦平面探测器的封装结构中,TCV芯片增大了焦平面芯片与CMOS放大电路芯片的间距,进而提高太赫兹焦平面探测器灵敏度;以及,本发明实施例中的TCV芯片分别与焦平面芯片、CMOS放大电路芯片倒装互联实现3D封装,有利于实现焦平面探测器的小型化、提高焦平面探测器的稳定性。
搜索关键词: 赫兹 平面 探测器 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
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