[发明专利]干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置有效
| 申请号： | 201911225977.2 | 申请日： | 2019-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN110987373B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;陆星;秦杰;柏楠;万双爱 | 申请（专利权）人： | 北京自动化控制设备研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种干涉型光纤传感器相位调制深度的测量方法及测量装置，该测量方法包括以下步骤：步骤一，第一信号发生器生成第一调制信号，可调谐激光器根据第一调制信号生成调制后的激光信号；步骤二，调制后的激光信号经光纤起偏器生成线偏振光；步骤三，线偏振光经非平衡臂迈克尔逊干涉仪生成干涉信号；步骤四，通过光电探测器将干涉信号转换为电信号；步骤五，根据电信号解算相位调制深度以完成干涉型光纤传感器相位调制深度的测量。应用本发明的技术方案，能够解决现有技术中相位调制深度的测量结构组件和解算算法复杂、计算工作量大和实用性低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉 光纤 传感器 相位 调制 深度 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
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