[发明专利]一种基于口面场的相控阵天线单元幅相配平方法及装置在审
申请号: | 201911229088.3 | 申请日: | 2019-12-04 |
公开(公告)号: | CN111044802A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 周建华;张捷俊;毛小莲 | 申请(专利权)人: | 上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人: | 殷晓雪 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种基于口面场的相控阵天线单元幅相配平方法,包括如下步骤。第一步:移动测试探头和/或待测的相控阵天线,对固定口径进行近场扫描测试。第二步:计算出待测天线口径面的幅度、相位数据。第三步:计算出待测天线各单元口径面的幅度、相位结果,并得到单元幅相配平表。第四步:将单元幅相配平表写入相控阵天线,判断相控阵天线单元幅相配平是否完成;如果已完成,则整个方法结束,得到最终的单元幅相配平表;如果未完成,则重复第一步至第四步,将新的单元幅相配平表写入相控阵天线覆盖之前写入的单元幅相配平表,如此重复直至相控阵天线单元幅相配平完成。本申请可缩短相控阵天线单元幅相配平工作的测试时间、提高测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 口面场 相控阵 天线 单元 相配 平方 装置 | ||
【主权项】:
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