[发明专利]不受倾斜角影响的高精度测量绝对距离的方法有效
| 申请号： | 201911231272.1 | 申请日： | 2019-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN111220971B | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 赵伟瑞;张璐;刘田甜 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01S11/12 | 分类号： | G01S11/12 |
| 代理公司： | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人： | 张利萍 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种不受倾斜角影响的高精度测量绝对距离的方法，是一种消除小倾斜角影响的高精度、大范围测量绝对距离的方法，属于光电测量技术领域。光阑上设置两个离散光阑孔，分别采集参考光路和测量光路的光波，通过系统焦面上的光强分布即点扩散函数(Point Spread Function,PSF)得到系统的光学传递函数(Optical Transfer Function,OTF)，进而对OTF取模得到系统的(Modulation Transfer Function,MTF)，取只有残余倾斜角存在的条件下的MTF侧峰值作为归一化因子，对绝对距离和残余倾斜角同时存在时的MTF侧峰值进行归一化，得到归一化的MTF与绝对距离的函数关系，从而消除了残余倾斜角的影响，现对绝对距离的高精度、大范围测量。 | ||
| 搜索关键词： | 不受 倾斜角 影响 高精度 测量 绝对 距离 方法 | ||
【主权项】：
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