[发明专利]存储芯片复位方法及成像设备有效
| 申请号： | 201911235002.8 | 申请日： | 2019-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN110920260B | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 刘杏肖;其他发明人请求不公开姓名 | 申请（专利权）人： | 广州众诺电子技术有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/175 | 分类号： | B41J2/175 |
| 代理公司： | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人： | 卢春燕 |
| 地址： | 510663 广东省广州市高新技术产业*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种存储芯片复位方法以及成像设备，该存储芯片复位方法包括：获取耗材芯片的数据变化方式；获取所述耗材芯片的耗材信息存储区域及非访问区域；根据所述数据变化方式改写所述耗材信息存储区域及非访问区域存储的数据值，其中，改写耗材信息存储区域的存储数据值为初始数据值，并将非访问区域存储的数据值按照所述数据变化方式变化；其中，所述非访问区域的地址与所述耗材信息存储区域地址相邻。本发明的存储芯片复位方法，通过获取耗材芯片的数据变化方式以及耗材芯片的耗材信息存储区域及非访问区域，对耗材芯片访问区域与非访问区域的数据值按照改写规则进行改写，实现存储芯片的复位。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 复位 方法 成像 设备 | ||
【主权项】：
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