[发明专利]一种全光纤结构的掺镱石英光纤光暗化测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911237700.1 申请日: 2019-12-06
公开(公告)号: CN111006848B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 张立华;高聪;李雨薇;李好;姜蕾;孙世豪;代江云;刘念;贺红磊;沈昌乐 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 阳佑虹
地址: 621900 四川省绵*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种全光纤结构的掺镱石英光纤光暗化测试装置,信号源输出的信号光依次通过光纤法兰、光纤衰减器衰减之后,与第一泵浦源输出的泵浦光经过波分复用器合成合束光;合束光与第二泵浦源输出的泵浦光分别通过光纤合束器的信号端与泵浦端输入,光纤合束器的输出光沿掺镱光纤传输,掺镱光纤的输出端与包层光剥离器的输入端熔接,包层光剥离器的输出光束经过低光子暗化滤光光纤进入光功率探测器;低光子暗化滤光光纤为掺Yb光纤;掺杂Yb2O3的浓度不高于0.1%wt。本发明的有益效果为光暗化测试装置为全光纤结构,测试系统结构紧凑,测试方法简单,器件成本低,可以精确调控信号源功率,优化测试条件,测试信噪比高。
搜索关键词: 一种 光纤 结构 石英 光暗化 测试 装置 方法
【主权项】:
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