[发明专利]用于测试样品的热处理的装置在审
| 申请号： | 201911242960.8 | 申请日： | 2019-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN111595659A | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | P.泽勒;S.艾伯特;S.华伦韦德 | 申请（专利权）人： | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 曹凌;王丽辉 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试样品的热处理的装置。所述装置包括样品保持器以及与样品保持器热接触的一个或多个热电元件。样品保持器包括被构造成保持测试样品耗材的至少两个保持位置。样品保持器包括内部工作流体和中空体，该中空体具有用支柱彼此连接的内底表面和内顶表面。支柱沿着垂直于内底表面的竖直轴线延伸，并且基本上在所述至少两个保持位置之间的距离的中间。还呈现了用于测试样品的热处理的实验室仪器和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 样品 热处理 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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