[发明专利]一种基于单光子计数二维成像的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911243199.X 申请日: 2019-12-06
公开(公告)号: CN111103062B 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 郭龑强;张浩杰;郭晓敏;赵彤 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 代理人: 赵江艳
地址: 030024 *** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明涉及纳米成像领域,为了解决了对纳米光纤大小器件实现成像的问题,公开了一种利用单光子计数二维成像的装置,包括真空气室、非球面镜、激光器、位移平台、准直装置、高速扫描振镜、耦合器、单光子计数器、数据采集卡和计算单元;激光器发出的激光经单模光纤传入真空气室内的待测纳米光纤后发生散射,非球面镜收集的散射光信号经第一、第二45度反射镜、准直装置和高速扫描振镜后,经耦合器入射至单光子计数器,数据采集卡用于采集单光子计数器进行光电转化后得到的电信号并发送至计算单元。本发明利用单光子计数获得光纤二维成像,成像精度高,图像还原性好,可广泛适用于对百纳米大小光传输介质的二维成像领域。
搜索关键词: 一种 基于 光子 计数 二维 成像 装置 方法
【主权项】:
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