[发明专利]一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 201911252014.1 | 申请日: | 2019-12-09 |
公开(公告)号: | CN111272625B | 公开(公告)日: | 2023-02-21 |
发明(设计)人: | 孟嘉;刘奎;肖鹏;南方 | 申请(专利权)人: | 上海飞机制造有限公司 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201324 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:对被测零件的目标检测区域进行孔隙率检测,得到所述目标检测区域的检测孔隙率;基于预先建立的孔隙率数据库对所述检测孔隙率进行校正,得到所述目标检测区域的校正孔隙率,其中,所述孔隙率数据库中对应存储有检测区域、孔隙率标准值和孔隙率参考值;基于所述目标检测区域的校正孔隙率,确定所述被测零件的零件孔隙率。本发明实施例通过预先建立的孔隙率数据库对被测零件的检测孔隙率进行分区域校正,解决了被测零件的周围孔隙率检测不准确的问题,提高了被测零件的孔隙率测量结果的准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 孔隙率 评估 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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