[发明专利]叶片叶型分析仪测具有效

专利信息
申请号: 201911256537.3 申请日: 2019-12-10
公开(公告)号: CN110940255B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 黄英;尹高平 申请(专利权)人: 株洲凯丰实业股份有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20;G01B21/20
代理公司: 长沙轩荣专利代理有限公司 43235 代理人: 李喆
地址: 412007 湖南省株洲市天元*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一种叶片叶型分析仪测具,包括:测具底座;测具立柱,所述测具立柱通过螺栓固定安装在在所述测具底座的顶面后端,所述测具立柱的顶部设置有一平行于所述测具底座的测具顶臂,所述测具顶臂的前端面设置有第一对标块;测具前柱,所述测具前柱通过螺栓固定安装在所述测具立柱的前方,所述测具前柱的前端面顶部设置有第二对标块,所述第二对标块与所述第一对标块位于同一平面;支撑定位结构,所述支撑定位结构包括有第一支撑臂和第二支撑臂,所述第一支撑臂通过螺栓固定安装在所述测具立柱的上部;本发明结构简单、操作便捷,能够在检测时快速定位并固定叶片,定位精度高,极大的缩短了检测所需要的时间,为叶片批量化检测提供检测条件。
搜索关键词: 叶片 分析 仪测具
【主权项】:
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