[发明专利]一种校准均匀线性阵列互耦和阵元增益-相位误差的方法有效

专利信息
申请号: 201911256593.7 申请日: 2019-12-03
公开(公告)号: CN112904321B 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 毕权杨;张建秋;李旦 申请(专利权)人: 复旦大学;珠海复旦创新研究院
主分类号: G01S7/52 分类号: G01S7/52
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 卢泓宇
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种校准均匀线性阵列互耦和阵元增益‑相位误差的方法,将互耦效应和阵元增益‑相位误差用一个误差矩阵来统一描述,并给出理想信号模型和考虑两种误差时的回波信号模型,将均匀线性阵列置于一个匀速移动的平台上,其接收到的回波信号将形成一个信号子空间,该信号子空间由平台移动速度以及均匀线性阵列系统参数所确定。根据理想信号模型以及子空间投影理论,将误差矩阵的估计描述成一个标准的凸优化求解问题,运用凸优化工具箱对该问题进行求解得到误差矩阵,利用估计得到的误差矩阵完成阵列校准。该方法能够对均匀线性阵列进行校准,简化了计算过程的同时提高了均匀线性阵列校准的精确度。
搜索关键词: 一种 校准 均匀 线性 阵列 增益 相位 误差 方法
【主权项】:
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