[发明专利]一种EBSD快速表征织构的方法有效
| 申请号： | 201911260147.3 | 申请日： | 2019-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN110927189B | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 黄小愉;黄天林;吴桂林 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203 |
| 代理公司： | 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 | 代理人： | 陈炳萍 |
| 地址： | 400044 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种EBSD快速表征织构的方法，特别涉及电子显微成像技术领域。具体包括以下步骤：S1：获取样品，并获取所述样品的整体尺寸；S2：获取所述样品的晶粒形貌图；S3：将所述晶粒形貌图数字化，并记录每个晶粒中心点的位置坐标；S4：对每个所述晶粒中心点进行标定，获取每个晶粒中心的晶体取向；S5：生成标定的区域的EBSD数据；S6：根据所述标定区域的EBSD数据得出所述样品的织构信息。本方案解决了如何提高EBSD表征晶体材料织构的效率和准确度的技术问题，适用于获得晶体材料大面积的晶体学取向信息，计算出材料准确的宏观织构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ebsd 快速 表征 方法 | ||
【主权项】：
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