[发明专利]一种Ti-Al系合金粉末的电子探针样品制备方法及显微偏析的检测方法在审
| 申请号： | 201911260907.0 | 申请日： | 2019-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN111060544A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 吴杰;卢正冠;田晓生;赵洪泽;李一平;徐磊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N23/225 | 分类号： | G01N23/225;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 于晓波 |
| 地址： | 110016 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种Ti‑Al系合金粉末的电子探针样品制备方法及显微偏析的检测方法，属于粉末冶金钛合金加工技术领域。该方法包括：(1)按比例配比Ti‑Al系合金粉末和导电镶嵌料粉末；(2)将混合均匀的粉末进行热镶嵌；(3)将镶嵌后的试样进行粗磨、精磨、抛光和清洗，即得本发明的电子探针样品；(4)采用电子探针将不同粒径的电子探针样品沿着粉末截面的直径方向进行EPMA定量线扫分析，每个粉末颗粒的测试点不少于10个，测试主要合金元素(如Al)的含量，并表征粉末颗粒的显微偏析情况。本发明操作简便灵活，实验成功率高，易于推广，应用前景广阔。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ti al 合金 粉末 电子探针 样品 制备 方法 显微 偏析 检测 | ||
【主权项】：
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